Elektronik- und Halbleitermodulprüfung E-LIT

E-LIT – Lock-In Thermografie für die Elektronik ist ein automatisiertes Prüfsystem innerhalb der zerstörungsfreien Prüfung. Es erlaubt eine berührungslose Fehlerinspektion an Halbleitermaterialien, elektronischen Bauteilen und elektronischen Schaltungen. Ungleichmäßige Temperaturverteilungen und lokale Energieverluste können mittels des speziellen Lock-In-Verfahrens und einer leistungsfähigen Thermografiekamera in kürzesten Prüfzeiten detektiert werden.

Die elektrischen Anregungseinheiten werden aus dem System parametriert und direkt synchron angesteuert. Sogar Fehler, die lediglich mK- oder μK-Abweichungen hervorrufen, können detektiert werden.

Kleinste Defekte, wie Punkt- und Linienkurzschlüsse, Oxidations-, Transistor- und Diodenfehler auf einer Leiterplattenoberfläche sowie in Schaltkreisen können exakt zweidimensional erkannt und dargestellt werden. Durch eine Veränderung der Lock-In-Frequenz lassen sich Fehler in Stacked-Die-Packages oder Multi-Chip-Modulen sogar räumlich zuordnen.

Die leistungsstarke Lock-in-Thermografie-Software verwendet Algorithmen und Routinen aus den neuesten wissenschaftlichen Veröffentlichungen.

E-LIT nutzt zur Auflösung kleinster geometrischer Strukturen Hochleistungs-Mikroskopobjektive und SIL-Linsen. Mittels hochauflösender Detektoren bis zu (1.920x1.536) IR-Pixel können große Messflächen charakterisiert werden.